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QFN48-0.5(7*7)翻盖弹片芯片测试座

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产品详情

●产品结构&电气性能稳定,使用操作简便。
●胶体使用PEI&PES耐高低温(-55℃~+170℃)。
●金属导体使用日本NGK铍铜,耐疲劳及高低温(-50℃~+900℃)和优良的导电性。
●此款测试座可测试芯片厚度在0.5MM到2.0MM之间

产品用途  编程座、测试座,对QFN48的IC芯片进行烧写、测试 
适用封装  QFN48,MLP48,MLF48 引脚间距0.5mm 
测试座  48QN50K17070 
特点  QFN48转DIP48,底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(100mil),宽度1.52cm(600mil) 

 


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