●产品结构&电气性能稳定,使用操作简便。
●胶体使用PEI&PES耐高低温(-55℃~+170℃)。
●金属导体使用日本NGK铍铜,耐疲劳及高低温(-50℃~+900℃)和优良的导电性。
●此款测试座可测试芯片厚度在0.5MM到2.0MM之间
产品用途 编程座、测试座,对QFN48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装 QFN48,MLP48,MLF48 引脚间距0.5mm
测试座 48QN50K17070
特点 QFN48转DIP48,底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(100mil),宽度1.52cm(600mil)
上一个产品:BGA100翻盖探针转dip48芯片
下一个产品:QFN48翻盖弹片双层板IC测试座