QFN12-0.5(3*3)翻盖弹片芯片老化测试座 - 产品展示

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QFN12-0.5(3*3)翻盖弹片芯片老化测试座

价格：￥

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产品详情

型号：
QFN12-0.5(3*3)
品牌/商标：
国产
生产厂家：
china
产品类别：
IC测试座- 老化座
规格：
QFN12-0.5(3*3)

产品用途：编程座、测试座，对QFN的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFN12 引脚间距0.5mm
测试座： QFN12-0.5
特点：采用U型顶针，接触更稳定

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