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QFN8-1.27(5*6)
国产
china
IC测试座- 老化座
QFN8-1.27下压探针测试座
产品简介
产品用途:编程座、测试座,对QFN8的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN8引脚间距1.27mm
测试座:QFN8-1.27
特点:采用进口探针,接触更稳定,寿命更长
工厂大量现货,QFN8-1.27下压式探针IC测试座 (不带板)欢迎来电咨询
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