QFN56-0.35下压探针老化座高低温测试座 - 产品展示

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QFN56-0.35下压探针老化座高低温测试座

价格：￥

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产品详情

型号：
QFN56-0.35
品牌/商标：
国产
生产厂家：
china
产品类别：
IC测试座- 老化座
规格：
QFN56-0.35

产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN56引脚间距0.35mm

测试座:QFN56-0.35

特点:采用进口探针，接触更稳定，寿命更长。批量出货交期

短、可耐高低温！

工厂大量现货，QFN56-0.35间距下压探针式结构IC测试座

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